磁控镀膜机溅射镀膜膜厚均匀性特性

　　磁控镀膜机溅射镀膜膜厚均匀性特性

　　溅射镀膜膜厚均匀性是间接衡量镀膜工艺的最终标准之一，它涉及镀膜过程的各个方面。因此，制备膜厚均匀性好的薄膜需要建立一个溅射镀膜膜厚均匀性综合设计系统，对溅射镀膜的各个方面进行分类、归纳和总结，找出其内在联系。一般来说，设计系统的建立应该具备的原则，以确定其基本的组织框架。以下从四个方面叙述其性质：

　　①一般性：要求系统在范围内是适用或者普遍存在的。对于本课题来说，系统能够满足工业上平板基片溅射镀膜的基本工艺要求，即溅射镀膜工艺过程的共性问题。

　　②特殊性：系统对特定研究对象达到的适用性。针对大面积平板基片溅射镀膜来说，就是溅射镀膜中的尺寸效应成为系统重要部分，如薄膜均匀性，基片加热的均匀性，材料的线性膨胀和变形，靶面的电流分布，气体分布和电磁场分布等。这一系列问题被尺寸效应突显出来。因此尺寸效应成为系统的个性问题。

　　③开放性：系统各部分是有机结合并不断发展的。随着技术的进步，各部分功能必然会得到进一步发展，从而使系统的综合性能得到提高。自动控制技术的发展使系统的功能变得强大：溅射过程中对等离子体光谱的监控技术，以及对电磁场的操纵能力使得系统对整个溅射过程的参数控制程度达到限度，可以实现精细设计。系统的开放性属于横向发展。

　　④继承性：系统发展到程度，就会发生由量变到质变的过程。系统在保汪原有功能基础上不断完善和提高。薄膜制备技术会随着理论的发展而逐步深入。对非平衡磁控溅射和等离子体理论研究，促进了溅射技术的进一步发展。随之而来的是对系统进行升级改造，以实现新的功能。继承性是系统的纵向发展。